涡流测厚仪是用载有高频电流的探头线圈在被测金属镀层表面产生高频磁场作用，由此在金属内部产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗变化。随着厚度的改变，由于探头线圈与基体金属表面之间的距离相应变化，因而探头线圈的阻抗发生变化。所以测出探头线圈的阻抗值，就可以间接反映出镀层被测部分的局部厚度